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耐馳脈沖激光熱反射法薄膜導(dǎo)熱儀NanoTR / PicoTR
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產(chǎn)品/服務(wù): 瀏覽次數(shù):108耐馳脈沖激光熱反射法薄膜導(dǎo)熱儀NanoTR / PicoTR 
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熱反射(Thermo-Reflectance)方法基于高速激光閃射系統(tǒng),可測量基片上金屬、陶瓷、聚合物薄膜的熱物性參數(shù),如:熱擴 散系數(shù)、導(dǎo)熱系數(shù)、吸熱系數(shù)(Thermal Effusivity)和界面熱阻。由于激光閃射時間僅為納秒(ns)量級,甚至可達到皮秒(ps) 量級,此系統(tǒng)可測量厚度低至 10nm 的薄膜。同時,系統(tǒng)提供不同的測量模式,以適應(yīng)不同的基片情況(透明 / 不透明)。
詳細(xì)信息
熱反射(Thermo-Reflectance)方法基于高速激光閃射系統(tǒng),可測量基片上金屬、陶瓷、聚合物薄膜的熱物性參數(shù),如:熱擴 散系數(shù)、導(dǎo)熱系數(shù)、吸熱系數(shù)(Thermal Effusivity)和界面熱阻。由于激光閃射時間僅為納秒(ns)量級,甚至可達到皮秒(ps) 量級,此系統(tǒng)可測量厚度低至 10nm 的薄膜。同時,系統(tǒng)提供不同的測量模式,以適應(yīng)不同的基片情況(透明 / 不透明)。
 
NETZSCH TR 特性:
? 該方法符合日本國家標(biāo)準(zhǔn):
? JIS R 1689:通過脈沖激光熱反射方法測量精細(xì)陶瓷薄膜的熱擴散系數(shù);
? JIS R 1690:陶瓷薄膜和金屬薄膜界面熱阻的測量方法 。

發(fā)展簡史
1990 年,日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所/日本國家計量院(AIST/NMIJ)發(fā)明熱反射法,測量薄膜導(dǎo)熱性能。
2008 年,AIST 設(shè)立 PicoTherm 公司。
2010 年,PicoTherm 公司推出納秒級熱反射系統(tǒng) NanoTR。
2012 年,PicoTherm 公司推出皮秒級熱反射系統(tǒng) PicoTR。
2014 年,PicoTherm 公司和 NETZSCH 公司建立戰(zhàn)略合作。由 NETZSCH 負(fù)責(zé) PicoTherm 產(chǎn)品的銷售和服務(wù)。



技術(shù)背景
激光閃射法 -
主流的材料熱擴散系數(shù)測試方法
在現(xiàn)代工業(yè)中,關(guān)于材料的熱性能、特別是熱物理性能的相關(guān)知識變得日益重要。在這里我們可以舉出一些典型領(lǐng)域,例如應(yīng)用于高性能縮微電子器件的散熱材料,作為持續(xù)能源的熱電材料,節(jié)能領(lǐng)域的絕熱材料,渦輪葉片中所使用的熱障涂層(TBC),以及核工廠的安全操作,等等。
在各種熱物性參數(shù)之中,導(dǎo)熱系數(shù)顯得尤其重要??梢允褂眉す忾W射法(LFA)對材料的熱擴散系數(shù)/導(dǎo)熱系數(shù)進行測定。這一方法經(jīng)過許多年的發(fā)展已廣為人知,可以提供可靠而精確的數(shù)據(jù)結(jié)果。樣品的典型厚度在 50um 至 10mm 之間。
NETZSCH 是一家儀器制造廠商,提供一系列的熱物性測試儀器,特別是激光閃射法導(dǎo)熱儀。這些 LFA 系統(tǒng)在陶瓷,金屬,聚合物,核研究等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

熱反射法 -
測試厚度為納米級的薄膜材料的熱擴散系數(shù)
隨著電子設(shè)備設(shè)計的顯著進步,以及隨之而來的對有效的熱管理的需求,在納米級厚度范圍內(nèi)進行精確的熱擴散系數(shù)/導(dǎo)熱系數(shù)測量已經(jīng)變得越來越重要。

日本國家先進工業(yè)科學(xué)與技術(shù)研究所(AIST),在上世紀(jì) 90 年代初即已響應(yīng)工業(yè)需求,開始研發(fā)“脈沖光加熱熱反射法”。于 2008 年成立了 PicoTherm 公司,同時推出了納秒級的熱反射儀器“NanoTR”與皮秒級的熱反射儀器“PicoTR”,這兩款儀器可對薄膜的熱擴散系數(shù)進行jue對法的測量,薄膜厚度從數(shù)十微米低至納米級范圍。
2014 年,NETZSCH 日本分公司成為了 PicoTherm 公司的代理。與我們現(xiàn)有的 LFA 儀器相結(jié)合,NETZSCH 現(xiàn)在可以提供從納米級薄膜、到毫米級塊體材料的全套的測試方案。

為什么需要測試薄膜?
薄膜的熱性能與塊體材料的熱性能不同
納米級薄膜的厚度通常小于同類塊體材料典型的晶粒粒徑。由此,其熱物理性能與塊體材料將有著顯著的不同。



測量模式

超快速激光閃射法 -
RF 模式:后部(Rear)加熱 / 前部(Front)探測
可測試熱擴散系數(shù)與界面熱阻
納米級薄層與薄膜的熱透過時間極短,傳統(tǒng)的激光閃射法(LFA)使用紅外測溫,采樣頻率相對較低,已不足以有效地捕捉納米級薄膜的傳熱過程。因此需要一種新的更快速的檢測方式,可以克服經(jīng)典的激光閃射法的技術(shù)局限。這一被稱為超快速激光閃射法的技術(shù),其典型模式為后部加熱/前部探測方法。
這一方式的測量結(jié)構(gòu)與傳統(tǒng)的 LFA 方法相同:樣品制備于透明基體之上,測量方向為穿過樣品厚度、與樣品表面垂直。由加熱激光照射樣品的下表面,由探測激光檢測樣品上表面的傳熱溫升過程。
隨著樣品檢測面的溫度逐漸上升,其表面熱反射率會相應(yīng)發(fā)生變化。使用探測激光按一定采樣頻率對檢測面進行照射,利用反射率的變化可獲取檢測面的溫度上升曲線。基于該曲線進行擬合計算,可得到熱擴散系數(shù)(如下圖所示)。這里,金屬薄膜(Mo)的熱擴散系數(shù)測量結(jié)果為 15.9 mm2/s。

時間域熱反射法 -
前部加熱 / 前部探測(FF)
測定熱擴散系數(shù)與吸熱系數(shù)
除了 RF 方法之外,測量也可以使用前部加熱/前部探測(FF)的結(jié)構(gòu)進行?!癋ront”一詞這里指的是沉積于基體上的薄膜的外表面,而“Rear”一詞指的是薄膜與基體接觸的一面。
在 FF 測量配置中(如下圖所示),加熱激光與探測激光處于樣品的同一面。加熱激光加熱的是薄膜的前表面的一個直徑為幾十微米的區(qū)域,探測激光則指向同一位置,觀察在照射之后表面溫度的變化。
這一方法可以應(yīng)用于非透明基體上的薄層材料,即 RF 方法不適合的場合。
在下圖的示例中,使用 FF 模式,金屬薄膜(Mo)的熱擴散系數(shù)測量結(jié)果為 16.1 mm2/s。結(jié)果證明了 RF 與 FF 模式之間結(jié)果高度的一致性(偏差<2%)。



NanoTR 原理
NanoTR 具有先進的信號處理技術(shù),可以進行高速的測量。測試過程中,一束脈沖寬度 1ns 的激光脈沖被周期性(間隔20us)地照射到樣品的加熱面上。使用探測激光記錄檢測面相應(yīng)的溫度響應(yīng)。通過在極短時間內(nèi)進行大量的重復(fù)測試,對重復(fù)信號進行累加,可以獲得優(yōu)異的信噪比。通過軟件,儀器可以方便地在 RF 與 FF 兩種測試方式之間進行切換,由此適合于各種類別的樣品。
NanoTR 遵從 JIS R 1689,JIS R 1690 標(biāo)準(zhǔn),提供具有熱擴散時間標(biāo)準(zhǔn)值的薄膜標(biāo)樣(RM1301-a),使結(jié)果具有 SI 可回溯性。該標(biāo)樣由 AIST 提供。

PicoTR 原理
對于皮秒級熱反射分析儀 PicoTR,照射到樣品的加熱面上的是脈沖寬度僅為 0.5ps 的激光脈沖,重復(fù)周期為 50ns。使用探測激光,記錄檢測面相應(yīng)的溫度響應(yīng)。
PicoTR 允許用戶在 RF 與 FF 兩種模式之間進行自由切換。
PicoTR 符合 JIS R 1689,JIS R 1690 標(biāo)準(zhǔn)。


技術(shù)參數(shù)

儀器型號 NanoTR PicoTR
溫度范圍 RT,RT … 300°C(選配) RT,RT … 500°C(選配)
測量模式 RF/FF RF/FF
樣品尺寸 10 × 10mm … 20 × 20mm 10 × 10mm … 20 × 20mm
薄膜厚度

30nm … 20μm (取決于樣品種類和測量模式)

10nm … 900nm (取決于樣品種類和測量模式)

熱擴散系數(shù) 0.01 … 1000mm2/s 0.01 … 1000mm2/s
主激光 脈沖寬度 1ns 光束直徑 100μm 激光功率 100mW 脈沖寬度 0.5ps 光束直徑 45μm 激光功率 20mW

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