儀器簡介:
PrimusII是理學公司*新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高.超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析
48樣品臺,節(jié)省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景.雙真空,雙泵設計,節(jié)省抽真空時間.防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵.微區(qū)分析可達500.適合少量樣品分析.
軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善,采用對話方式,進行EZ掃描.應用模板,可將各種測試條件,以及前處理順序設置其中.FP無標樣分析,是理學公司多年來總結(jié)出的一套很好的分析方法,不設定測試成分也能準確分析.流程條,按順序顯示測試處理內(nèi)容.標準樣品,操作手冊全中文提供,方便中國用戶.
維修保養(yǎng):PAS自動調(diào)整,芯線自動清洗.給用戶帶來方便.
PrimusII是理學公司*新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高.超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析
48樣品臺,節(jié)省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景.雙真空,雙泵設計,節(jié)省抽真空時間.防粉塵附件,可防止粉末掉入真空泵.微區(qū)分析可達500.適合少量樣品分析.
軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善,采用對話方式,進行EZ掃描.應用模板,可將各種測試條件,以及前處理順序設置其中.FP無標樣分析,是理學公司多年來總結(jié)出的一套很好的分析方法,不設定測試成分也能準確分析.流程條,按順序顯示測試處理內(nèi)容.標準樣品,操作手冊全中文提供,方便中國用戶.
維修保養(yǎng):PAS自動調(diào)整,芯線自動清洗.給用戶帶來方便.
技術參數(shù):
硬件:
對應超輕元素的X射線光管
采用4kW、30μm薄窗X射線光管,可高靈敏度測試超輕元素。
采用新型光學系統(tǒng)
采用新型分光晶體,與第二代儀器分光晶體相比,大幅度提高了靈敏度。
48樣品交換器
實現(xiàn)平臺式共享化,*多可放置48個樣品。多樣品交換器實現(xiàn)了省空間。
實現(xiàn)平臺式共享化,*多可放置48個樣品。多樣品交換器實現(xiàn)了省空間。
1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜,在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
除去X射線光管的特征X射線光譜,在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
雙泵、雙真空系統(tǒng)
采用雙真空系統(tǒng)(樣品室/預抽真空室)。
防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設計,樣品交換實現(xiàn)更高效率。
采用雙真空系統(tǒng)(樣品室/預抽真空室)。
防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設計,樣品交換實現(xiàn)更高效率。
粉末附件
電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入真空泵內(nèi)。
電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入真空泵內(nèi)。
定點分析
100μm的Mapping分辨率??稍贑CD圖像上指定點、區(qū)域、線。定點*小直徑500μm。
100μm的Mapping分辨率??稍贑CD圖像上指定點、區(qū)域、線。定點*小直徑500μm。
采用r-θ樣品臺,避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾,可得到靈敏度分析結(jié)果。 (無 r-θ 樣品臺)
節(jié)能、節(jié)省空間
節(jié)能功能(自動減少X射線光管輸出) 減少冷卻水量 5L/min(水溫30?以下)
PR氣體流量減少(5mL/min)
省空間
采用聯(lián)體設計,設置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。便于維護
PAS脈沖高度自動調(diào)整 F-PC芯線自動清洗
節(jié)能、節(jié)省空間
節(jié)能功能(自動減少X射線光管輸出) 減少冷卻水量 5L/min(水溫30?以下)
PR氣體流量減少(5mL/min)
省空間
采用聯(lián)體設計,設置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。便于維護
PAS脈沖高度自動調(diào)整 F-PC芯線自動清洗
軟件
新版SQX軟件
在RIGAKU獨有的基本參數(shù)法技術的基礎上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。
委托分析EZ掃描
采用對話框形式設定,可進行SQX分析。
定角測試模式
微量元素,采用譜峰和扣背景以一定時間記數(shù)方法,使用抑制統(tǒng)計變動的X射線強度,算出分析值。自動設定每個樣品變化扣背景的位置。
新版SQX軟件
在RIGAKU獨有的基本參數(shù)法技術的基礎上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。
委托分析EZ掃描
采用對話框形式設定,可進行SQX分析。
定角測試模式
微量元素,采用譜峰和扣背景以一定時間記數(shù)方法,使用抑制統(tǒng)計變動的X射線強度,算出分析值。自動設定每個樣品變化扣背景的位置。
應用模板
各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。
各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。
散射線FP法
不需設定非測試成分,也可以準確分析。散射線強度計算,可以考慮幾何學效果,沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品,使用SQX軟件,可以簡單、準確地進行分析。
不需設定非測試成分,也可以準確分析。散射線強度計算,可以考慮幾何學效果,沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品,使用SQX軟件,可以簡單、準確地進行分析。
流程條
測試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內(nèi)容,擊鼠標鍵,便可按順序進行所需的測試、處理。
測試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內(nèi)容,擊鼠標鍵,便可按順序進行所需的測試、處理。
其它特點的軟件功能
①SQX分析功能
② Mapping數(shù)據(jù)庫
③材質(zhì)辨別
④理論重疊校正
⑤自動程序運轉(zhuǎn)
⑥校正投入量計算
①SQX分析功能
② Mapping數(shù)據(jù)庫
③材質(zhì)辨別
④理論重疊校正
⑤自動程序運轉(zhuǎn)
⑥校正投入量計算
應用軟件包
應用軟件包,設定樣品(標準樣品、漂移校正樣品)
CD-ROM(測試條件、校正常數(shù)等)、操作手冊全盤提供。
應用軟件包,設定樣品(標準樣品、漂移校正樣品)
CD-ROM(測試條件、校正常數(shù)等)、操作手冊全盤提供。
主要特點:
特點:
輕元素(B,C)靈敏度大幅度提高
配備*新的、高強度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75
重金屬的高靈敏度分析-采用*新型光學系統(tǒng)
高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100μm
的無標樣分析-*新的SQX軟件
儀器設計充分考慮周邊環(huán)境-節(jié)能、省空間